数字式四探针检测仪 型号：HHY8-SZT-2000
HHY8-SZT-2000型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状
半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻行测量，可以从10-6--105Ω—cm量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的需仪器。