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四探针金属/半导体电阻率测量仪/四探针半导体电阻率测量仪


四探针金属/半导体电阻率测量仪/四探针半导体电阻率测量仪 型号:HAD-SB100A/2

HAD-SB100A/2为原SB100/1及SB100A/1的改型。
 
由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于校物理教育实验,对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
 
(使用环境5—40℃,相对湿度<80%,供电220V  50Hz,为实验室环境使用)
 
HAD-SB100A/2由HAD-SB118直流电压电流源、HAD-PZ158A直流数字电压表、SB120/2四探针样品测试平台三分组成。
l            HAD-SB118直流电压电流源:是台4½位的电压源及电流源,既可输出5µV—50V,5档可调电压,基本误差为±(0.1%RD+0.02%FS)又可输出1nA—100mA,5档可调电流,基本误差为
±(0.03%RD+0.02%FS)详见本公司产品SB118。
l           HAD- PZ158A直流数字电压表:具有6½位字长,0.1μV电压分辨力的带单片危机处理术的精度电子测量仪器,可测量0-1000V直流电压。基本量程的基本误差为±(0.002%RD+0.0005%FS),详见本公司产品HAD-PZ158A。
l            HAD-SB120/2四探针样品测试平台:该测试平台是HAD-SB120/1测试平台的改型。其有底座、支架、旋动件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原HAD-SB120/1的基础上作了很大的改,故在校的物理实验及科学研究总为导体/半导体/金属薄膜材料的电阻和电阻率的测试、研究提供了较大的方便
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