材料磁性综合测量仪       型号；H23033
表面磁光克尔效应研究薄膜磁性质，研究磁光存储的性，开发新型的密度磁光存储介质。可用于纳米术、巨磁阻、磁电子器件等新磁性材料的研究。将具有大磁致伸缩效应的铁磁材料晶体研制成新的合金材料，具有很的居里温度点 , 引发传统电子信息系统、传感系统、振动系统等域产生变革。故对材料磁致伸缩性的研究也是材料研究域的又个重点。振动样品磁强计应用于测量铁磁、反铁磁、抗磁等材料的磁性，包括对稀土磁材料、铁氧体材料、导材料及生物蛋白质的磁性研究。古埃法磁天平用于磁学和磁化学研究，可测量顺磁和逆磁磁化率，磁流体的磁矩和磁化性。

　　H23033
 型表面磁光克尔效应实验系统为基础，将表面磁光克尔效应、磁致伸缩效应、振动样品磁强计和磁天平四种测试手段融合在个测量系统当中，共用同台电磁铁，整合了信号处理系统。并且在磁致伸缩效应的测量上使用了的方式使得操作更为方便，灵敏度更。

　　仪器主要术参数：

•  实验平台 光学减振组合式实验台，台面尺寸 1600 × 1200mm ， M6 螺孔，孔距 25 × 25mm

•  电磁铁 磁间隙 0-50mm 连续可调

•  *恒流电源 0-7.5A 连续可调

•  半导体激光器 波长 650nm ，输出率 2mW

•  位移传感器测量精度 0.1um

•  磁化强度测量精度 10 -6 Am 2

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